Viscom推出灵活的微聚焦计算机断层扫描系统来源：中国PCB技术网
X8060NDT专为在工业和科学领域提供无损检测而设计。它不仅可巧妙地处理大型或重型物体，而且还能够以较高放大倍率检测最小型零部件。这种灵活性使X8060NDT成为了最广泛工业应用领域中颇具价值和优势的检测工具。
这种集成微聚焦计算机断层扫描（µCT）技术可重建重量不超过30千克的检测物体的三维结构。该工艺不仅能够从空间上显示生产缺陷和材料缺陷，而且还能够显示单独切片和单独部分图片。由于这项技术具有卓越的空间显示能力，因此，其可提高缺陷定位能力，并直接测量体积模型。该技术通常能够在短短数分钟时间内迅速捕捉和评估图像。因此，微聚焦计算机断层扫描技术可迅速为用户传递有用信息。而以往，用户需要经过枯燥而频繁的破坏性测量方可获得这些信息。
这款八轴模组化操纵器为以高放大倍率实现成角辐射开辟了新机遇。该系统不仅可显示电子装配表面由球栅阵列（BGA）等相互接合的焊点组成的结构，而且还能够检测各种大型物体。如此广泛的应用，既节省了成本，又提高了系统利用率。
Viscom推出的实时图像处理XMC包含广泛精选分析工具，可提供最大操作者舒适度。它可有效改善图像质量并避免时滞，以便操作者将所有精力集中在检测物体上。